书目详细信息
： Scanning electron microscopy/1985/2 :
书目信息 机读格式(MARC)
| 题名： | Scanning electron microscopy/1985/2 : an international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications, pt.ll / guest editor R.P. Becker |
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| 出版发行项： | New york : Scanning Electron Microscopy 1985. |
| 载体形态： | p.467-904 p. ill. 29cm. |